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臺階儀橢偏儀 SEM AFM TEM

AFM

型號

廠家：Bruker（德國）
型號：Dimension ICON
主要參數(shù)

XY方向掃描范圍90μm x 90μm，
垂直方向掃描范圍10μm，
樣品尺寸可達(dá)直徑210mm，厚度15mm
用途及功能

表面形貌、粗糙度、相圖測試
力曲線等力學(xué)性質(zhì)測試
用途及功能

電學(xué)性質(zhì)如靜電力顯微鏡（EFM）、開爾文探針力顯微鏡（KPFM）、壓電力顯微鏡（PFM）、導(dǎo)電原子力顯微鏡測試（C-AFM）
特點(diǎn)

高分辨形貌成像、電學(xué)性能測試模塊如EFM、PFM、KPFM、C-AFM

案例展示

放眼未來專注科技

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