中文字幕精品在线观看_欧美AA大片免费看_国产日韩欧美一区二区综合在线_国产网曝门事件一区视频_黄色视频网站在线免费观看_tobu8日本图片高清免费_亚洲aⅤ之男人的天堂网站_亞洲色欲va國產日韓歐美精品

導航

臺階儀 橢偏儀 SEM AFM TEM
當前位置：首頁 >> 器件結構表征 >> 橢偏儀
橢偏儀
  • 型號
    廠家：J.A.Woollam（美國）
    型號：M-2000V
  • 主要參數
    光譜范圍：370-1000nm，390個數據點
    測量時間：最快0.05s；典型1到5s (370-1000nm全光譜范圍）。入射角：65度固定
  • 主要參數
    樣品臺大?。?50mm水平樣品臺，自動Z軸高度
    光斑尺寸：普通光斑直徑4mm左右，微光斑直徑220μm
  • 用途及功能
    用于測量單層或多層薄膜厚度d；單層或多層薄膜各層光學常數的測量，如折射率n 及消光系數k。
案例展示

放眼未來 專注科技

Copyright ? 2023-2024 蘇州博納微電子科技有限公司 All Rights Reserved.